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渦流測(cè)厚儀 型號(hào):TX-ED400
TX-ED400型渦流測(cè)厚儀是TX-ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高。
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
TX-ED400型渦流測(cè)厚儀與TX-ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
＊量程寬 TX-ED400型的量程達(dá)到0～500μm。
＊精度高 TX-ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
＊分辨率高 TX-ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
＊校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
＊基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量
誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性
提高。
＊穩(wěn)定性提高 采用先進(jìn)的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
＊探頭線壽命長(zhǎng) 采用德國(guó)進(jìn)口的，在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
可大大延長(zhǎng)。
＊探頭芯壽命長(zhǎng) 采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延
長(zhǎng)。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)
需返廠維修。
測(cè)量范圍： 0～500μm
測(cè)量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
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