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超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào):DG-MiniTest 400
產(chǎn)品概述:

超聲波測(cè)厚儀DG-MiniTest 400/400A/400B 

 

高精準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀

高阻抗雙晶探頭

脈沖-回波方式 量程達(dá)0.65-400mm

回波-回波方式(透過(guò)涂層測(cè)量) 量程達(dá)3-25mm

堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。

快速測(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。

適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。

適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測(cè)。

適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機(jī)械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產(chǎn)品檢驗(yàn)。

DG-MiniTest 400

操作簡(jiǎn)便,易于使用。將探頭放置到被測(cè)物體表面上,即可讀出所測(cè)厚度的數(shù)據(jù),或是將探頭沿被測(cè)物體表面拖動(dòng),即可找出所測(cè)物體厚度最薄點(diǎn)位置。

 

DG-MiniTest 400A

超聲波測(cè)厚儀具有MiniTest 400全部功能外,新增了下列功能:

探頭自動(dòng)識(shí)別

開機(jī)自動(dòng)校零

預(yù)置9種常用材料聲速值

數(shù)據(jù)分組

USB接口上傳

聲速測(cè)量

設(shè)限測(cè)量

最小值測(cè)量

差值測(cè)量

 

DG-MiniTest 400B

超聲波測(cè)厚儀具有MiniTest 400A全部功能外,新增了下列功能:

回波-回波測(cè)量(透過(guò)涂層測(cè)量)

 

標(biāo)準(zhǔn)配置                        可選配置                                                

儀器主機(jī)                         階梯試塊,通訊電纜,通訊軟件,高溫探頭等,詳情請(qǐng)咨詢當(dāng)?shù)亟?jīng)           

帶連接電纜的探頭一支             銷商。

耦合劑

2節(jié)5號(hào)電池

塑料手提箱

中英文說(shuō)明書

保修卡

 

技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目

參數(shù)

400

400A

400B

顯示信息

測(cè)量值,聲速值,探頭型號(hào),電池電量,當(dāng)前數(shù)據(jù)組

測(cè)量范圍

回波-回波測(cè)量:3mm-25mm                            

 

 

 

發(fā)射-回波測(cè)量:0.65mm-400mm(不同型號(hào)探頭決定不同測(cè)量范圍)

示值精度

小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm

單位

公制/英制

聲速范圍

1000m/s - 9999m/s,

增益

自動(dòng)

 

手動(dòng)

 

 

聲速測(cè)量

確定未知聲速材料的聲速,預(yù)置9種常用材料聲速值

 

探頭識(shí)別

自動(dòng)識(shí)別探頭

 

零位校準(zhǔn)

開機(jī)自動(dòng)零位校準(zhǔn)

 

測(cè)量模式

發(fā)射-回波模式

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量:滿足常用的檢測(cè)要求

最小值測(cè)量:滿足曲面或需要選擇最小值的測(cè)量環(huán)境

 

差分測(cè)量:顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值

 

平均測(cè)量:提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值

 

上下限測(cè)量:極限報(bào)警

 

回波-回波模式

透過(guò)涂層測(cè)量基體厚度

 

 

快速掃查模式

適用于高溫或需要提高測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境,每秒10次的測(cè)量,可以同時(shí)顯示測(cè)量中的最大值和最小值

 

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

1600個(gè)數(shù)據(jù)

 

 

105000個(gè)數(shù)據(jù),動(dòng)態(tài)分配

 

數(shù)據(jù)輸出

USB接口,通過(guò)USB接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)

 

關(guān)機(jī)選擇

可選擇2分鐘,5分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)或選擇不自動(dòng)關(guān)機(jī)

 

外形尺寸

130 × 73 × 24 mm(L×W×H)

重量

190g

工作溫度

-2050攝氏度

電池

兩節(jié)5號(hào)電池,電量顯示,電量不足報(bào)警

工作時(shí)間

不間斷測(cè)量不少于80小時(shí)

顯示屏

128×64 背光

 

DG-Minitest400可選探頭:

型號(hào)

晶體直徑

頻率

測(cè)量范圍

工作溫度

簡(jiǎn)介

P4

4MM

10.0MHZ

0.8-20MM

-12-+60

小管徑探頭

P6

6MM

7.5MHZ

0.8-150MM

-12-+60

主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量.

P8

8MM

5.0MHZ

0.8-350MM

-12-+60

標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。

P12

10MM

5.0MHZ

1.0-500MM

-12-+60

測(cè)厚探頭,主要用于測(cè)量厚度100-500MM的物體.

ECP12

12MM

2.5MHZ

3-50MM

-12-+75

粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量.

PHT12

12MM

5.0MHZ

1.2-350MM

-12-+350

高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量,注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.

PHT12

12MM

5.0MHZ

1.2-350MM

-12-+550

高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于550℃的材料的測(cè)量,注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.

 

DG-Minitest400A/B可選探頭:

型號(hào)

晶體直徑

頻率

測(cè)量范圍

工作溫度

簡(jiǎn)介

EP8E

8MM

5.0MHZ

3-25MM(E-E)

0.8-300MM(T-E)

-12-+60

400B獨(dú)有探頭,具有透過(guò)涂層測(cè)量模式

EP4

4MM

10.0MHZ

0.65-20MM

-12-+60

小管徑探頭

EP6

6MM

7.5MHZ

0.65-50MM

-12-+60

主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量.

EP8

8MM

5.0MHZ

0.8-350MM

-12-+60

標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。

ECP12

12MM

2.0MHZ

2.0-400MM

-12-+60

粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量.

EHP13

13MM

5.0MHZ

3.0-200MM

-12-+350

高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量,

注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.

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